當(dāng)前所在位置: 首頁 > 產(chǎn)品首頁 >檢測(cè)、測(cè)量 、自動(dòng)化、工業(yè)IT >電氣測(cè)量 >電容測(cè)量?jī)x表、電容測(cè)試儀 >ESI多層陶瓷電容器測(cè)試系統(tǒng)Allegro XP
Allegro XPTM提供MLCC制造商所需的精度水平,這些制造商生產(chǎn)更大、更高電壓的芯片,用于汽車、物聯(lián)網(wǎng)、手持設(shè)備和商用通信設(shè)備等行業(yè)。
Allegro XP采用ESI創(chuàng)造的技術(shù),以高達(dá)每小時(shí)100萬件的速度可靠地對(duì)新一代高壓芯片進(jìn)行高通量生產(chǎn)級(jí)電氣測(cè)試,這是業(yè)界高的測(cè)試吞吐量。
我們的低沖擊旋轉(zhuǎn)切屑處理技術(shù)在保持吞吐量的同時(shí),大限度地減少了與測(cè)試相關(guān)的切屑損壞。脈沖驅(qū)動(dòng)觸點(diǎn)可大限度地減少終端標(biāo)記并保持觸點(diǎn)完整性。Allegro XP還可容納多達(dá)25個(gè)測(cè)試站同時(shí)執(zhí)行多個(gè)測(cè)試,配置簡(jiǎn)單,可快速切換到各種生產(chǎn)運(yùn)行測(cè)試設(shè)置。ESI Allegro系列的新添加提供了MLCC制造商在全電容范圍內(nèi)測(cè)試各種芯片尺寸所需的靈活性和可靠性。Allegro XP具有低的擁有成本、一貫的高吞吐量和更高的測(cè)試產(chǎn)量。
MLCC測(cè)試
MLCC排序
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