半導體硅粒材料，主要是高純度的硅片，具有優(yōu)良的電學和機械性能，是制造集成電路、太陽能電池等電子器件的關鍵材料。這些材料對溫度、濕度、靜電等環(huán)境因素極為敏感，因此在輸送過程中需要嚴格控制條件，避免污染和損壞。

在半導體硅粒材料的輸送過程中，入料和出料控制是確保生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量的重要環(huán)節(jié)。為了保證硅粒斗里面的硅粒料在可控的范圍內(nèi)，需要對其進行檢測，硅粒料位過高則進行報警輸出。

應用需求：需要檢測硅粒斗里面的硅粒料有無在可控范圍內(nèi)，如果硅粒的料位過高則有報警輸出。

應用挑戰(zhàn)：有的材料是反光材質(zhì)且無規(guī)則形狀，導致單點激光反光無法控制。

邦納解決方案：使用K50Z多點測量傳感器對硅粒的高低有無超出進行判斷報警。

方案應用

1、將K50Z多點測量傳感器安裝在斗料機的側(cè)上方。

2、使用K50Z軟件的自動糾正功能減少傾斜安裝帶來的測量誤差。 

3、使用K50Z多點測量傳感器的窗口多點檢測功能進行有效范圍的監(jiān)控。